關鍵字: 電性參數測試,IV,CV,QS-CV, package, wafer, prober,實驗室,生產線, 半導體, 面板, 記憶體, 離散元件, 功率元件
服务项目 |
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●4070/4080/4770系统咨询 |
●SPECS/RMB测试流程客制化 |
●Test Plan及RMB量测程序(algo)撰写及开发 |
●IDM产品程序导入晶圆代工厂 (C to RMB) |
●WAT机台功能扩充 (外挂仪器整合)如WAT-HV, WAT-RF, WAT-HVCV等 |
●WAT Server导入及专业服务 |
●客制化数据处理程序 (adt, root, stdf)及log分析工具 |
●测试问题分析及排除、data correlation |
●8吋WAT工厂自动化 (CIM) |
●探针台(prober)及探针卡(probe card)咨询 |
●WAT环境健检及优化 |