我们是电性参数测试 (WAT/TEG) 及
      阵列电性测试 (Array Test) 的专家


和瑞科技成立于 2009 年。我们是美商是德科技 (Keysight Technologies) 于大中华地区之授权经销商、系统整合商及专业服务商。         

我们专注于电性参数测试 (Parametric Test) 及面板阵列测试 (Array Test) 之解决方案及专业服务。从半导体厂的晶圆允收测试 (WAT) 到面板厂的数组段电性测试 (TEG/Array) ;从产线的自动化测试系统到实验室的手动量测仪器。十多年来,我们一直是客户在电性测试领域的信任伙伴。目前两岸的各大半导体厂及面板厂皆为我们的长期客户。


和瑞除了提供 Keysight 标准产品,也期望为产业及客户创造更高的价值。目前我们持续投入电性参数测试领域的加值服务 (如客制化功能、系统整合、专用软件开发等),并积极开发化合物半导体相关的测试应用方案 (如射频组件、功率组件) 。努力满足产业及客户多样化的测试需求。

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