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自动化量测系统整合简介
和瑞科技深耕自动化量测系统整合方案开发,主要分为 Keysight WAT 系统整合及仪器系统整合两大类。若您有各种组件电性参数测试 (WAT/CP) 的需求,欢迎随时与我们交流讨论
方案一:Keysight WAT 系统整合
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因应通讯及电动车等市场蓬勃发展,越来越多晶圆厂需要在既有WAT执行功率组件或射频组件之电性参数测试。产线标准的Keysight WAT机台规格有限制(200V、1MHz),无法满足新应用测试需求。用户因此考虑建置新的特殊组件专用测试机。
新的专用机除了使用性局限外、也需投资prober及寻找场地,对空间有限的厂区非常挑战。新的平台也增加使用者的学习、维护及作业成本,影响生产力。
若能在原有Keysight WAT机台上扩充功率组件或射频组件之量测功能,晶圆厂可大幅节省设备投资及人员作业成本。
方案二:Raytrex 41000 仪器系统整合
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当特殊组件之产能提升,或是并无既有WAT Tester可整合(如面板TEG或晶圆CP测试),使用者便需要一套独立的专用Auto Tester。透过开发软件完成自动化仪器系统整合测试方案。
WAT, 參數測試, CP, TEG, Parametric Test, 系統整合, Power Device, 功率元件, GaN, 氮化鎵, Sic, 碳化矽, IGBT, RF Device, 射頻元件, GaAs, 砷化𪿭, 化合物半導體, MEMS, TWS, 4062, 4070, 4071A, 4072A, 4072B, 4073A, 4073B, 4080, 4082A, 4082F, 4770, 4771A, 4772A 41000, Auto-HV, WAT-HV, Auto-RF, WAT-RF, Auto-Cal
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